5 集束イオンビーム（FIB）装置による微少部の連続断面観察【WINTEC event 2023】

(8:19)

JIB-4000PLUS 集束イオンビーム加工観察装置 三次元観察（CCDイメージセンサー）

(1:25)

JAIST共通実験機器：集束イオンビーム加工装置・FIB（SIIナノテク SMI3050）

(1:3)

FIB SEM装置のご紹介

(3:53)

JEOL Multi Beam System JIB-4700F Promotion movie

(3:57)

FIBによるめっき不良のSlice\u0026Viewおよび3D構築

(40)

「FIB-SEMによる多様な材料の加工観察技術」

(14:25)

(MC)² トレーニング - Helios PFIB イオン ビーム トレーニング

(4:15:34)

Focused Ion Beam preparation of TEM lamella

(2:)

集束イオンビーム S/TEM ラメラ調製チュートリアル

(39:45)

ガリウム集束イオンビーム (Ga-FIB) 講義: 原理、技術、応用

(1:1:8)

Helios 5UX - SEM training video

(17:13)

Helios 5UX - FIB training

(25:37)

デュアルビーム FIB/SEM ワークショップ: ヒント、コツ、その他の役立つ情報

(1:40:23)

集束イオンビーム (FIB) の概要 - H Zhou - MRL - 07302020

(1:6:39)

ＨＯＷ　ＴＯ　サイエンス　（６）ナノサイズのものを作る方法

(28:59)

Preparation method of using FIB-SEM for STEM observations

(9:44)

FIB SEM｜KISTEC技術支援

(48)

【予告】WINTEC event 2023 業務報告会 開催の案内

(52)

5) FIB薄片リフトアウト　姿勢制御と受渡し

(1:13)

JEOL Focused Ion Beam System JIB-4000PLUS (JP)

(3:24)

イオンビームによるNVセンターの開発

(1:25)

FIB lift out

(53)

DualBeam FIB

(1:29)

「ポイントビームによるEBリソグラフィ技術」

(20:9)

JEL- マルチワークアライナ SAL38C3HV (Multi work aligner)

(5)

FIB-SEMを用いた３次元解析

(4:23)